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http://hdl.handle.net/10662/7624
Títulos: | Application of the new Monte Carlo code AlfaMC to the calibration of alphaparticle sources |
Autores/as: | Jurado Vargas, Miguel Fernández Timón, Alfonso García Orellana, Carlos Javier |
Palabras clave: | Espectrometría de partícula alfa;Código AlfaMC;Simulación de Monte Carlo;Dispersión y auto-absorción;Alpha-particle spectrometry;Code AlfaMC;Monte Carlo simulation;Scattering and self-absorption |
Fecha de publicación: | 2015 |
Editor/a: | De Gruyter |
Resumen: | Las mediciones de partículas α fuentes requieren correcciones en la tasa de escrutinio debido a la dispersión y la auto-absorción en la fuente y el apoyo material. En este estudio, se describe un procedimiento sencillo para estimar estas correcciones con el nuevo código de Monte Carlo AlfaMC para considerar los efectos de dispersión y de auto-absorción conjuntamente, y así determinar la actividad de la α de emisores. El procedimiento propuesto se aplicó a 235 UO2 fuentes depositados en platino pulido respaldos. En general, la dependencia de la eficiencia con espesor de origen estaba en buen acuerdo con un simple considerando un modelo lineal y un comportamiento hiperbólico para fuentes delgadas y gruesas, respectivamente, aunque desviaciones significativas de este modelo fueron encontrados por fuentes muy delgada. Para estas fuentes muy delgada, la simulación Monte Carlo se reveló como un método requerido en la calibración primaria de partículas α fuentes. La eficacia de los resultados obtenidos por simulación con AlfaMC estuvieron de acuerdo con los datos disponibles de eficacia. Measurements of α-particle sources require corrections to the counting rate due to scattering and self-absorption in the source and the backing material. In this study, we describe a simple procedure to estimate these corrections using the new Monte Carlo code AlfaMC to consider the effects of scattering and self-absorption conjointly, and so to determine the activity of α emitters. The procedure proposed was applied to 235UO2 sources deposited on highly polished platinum backings. In general, the dependence of the efficiency with source thickness was in good agreement with a simple model considering a linear and a hyperbolic behavior for thin and thick sources, respectively, although significant deviations from this model were found for very thin sources. For these very thin sources, the Monte Carlo simulation revealed to be as a required method in the primary calibration of α -particle sources. The efficiency results obtained by simulation with AlfaMC were in agreement with available efficiency data. |
URI: | http://hdl.handle.net/10662/7624 |
ISSN: | 0029-5922 |
DOI: | 10.1515/nuka-2015-0113 |
Colección: | DFSCA - Artículos DIEEA - Artículos |
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